保有機器一覧
- 有機・無機分析用機器
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高周波プラズマ質量分析装置
- 蛍光X線分析装置（エネルギー分散型）
- 高周波プラズマ発光分析装置（ICP-AES）
- 高周波プラズマ質量分析装置（ICP-MS)
- 原子吸光分析装置（AA)
- 分光光度計(UV-VIS)
- 電位差滴定装置
- イオンクロマトグラフィー（IC)
- 水分分析装置
- 高速液体クロマトグラフィー（HPLC)
- ガスクロマトグラフィー（GC) 検出器： ECD, FID, TCD, PID
- ガスクロマトグラフィー-質量分析装置（GC-MS)
- X線回折装置
- 局所分析・形態観察
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レーザ誘起ブレークダウン分光装置
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
- エネルギー分散型X線分析装置（EDX)
- 実体顕微鏡
- デジタルマイクロスコープ
- 金属顕微鏡（倒立顕微鏡）
- 微分干渉顕微鏡
- 位相差顕微鏡
- パーソナル画像解析システム
- レーザ誘起ブレークダウン分光装置（LIBS）
- 試験装置製作・実験用機器
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マルチプラズマ高速放電焼結装置
- 示差熱熱重量測定装置
- 電気炉
- 電気化学測定装置
- マイクロウェーブ高圧試料分解装置
- マルチプラズマ高速放電焼結装置(ED-PAS)
- ケラマックス炉
- 高温雰囲気制御炉
- レーザー方式粒度分布測定装置
- 各種切断装置
- 大型高速金切鋸盤
- フライス盤
- 恒温恒湿試験機
- 各種機械研磨装置
- 各種粉砕機
- TIG溶接装置
- 旋盤、フライス盤、ボール盤